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Econometrics

ISSN: 2225-1146 Frecuencia: 4 Formato: Electr�nica

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2 art�culos asociados

A Fast, Accurate Method for Value-at-Risk and Expected Shortfall	Acceso
Jochen Krause and Marc S. Paolella

A One Line Derivation of EGARCH	Acceso
Michael McAleer and Christian M. Hafner