REVISTA

REVIEW OF SCIENTIFIC INSTRUMENTS

ISSN: 0034-6748    Frecuencia: 12   Formato: Impresa

Tablas de contenido  

50 artículos asociados

Volumen 80 Número 7 Parte 0 Año 2009

Charles M. Falco
 

M. Munir, N. Ahmad, S. Sohail, R. A. Naveed, M. Q. Rafiq, and M. Khalid
 

S. A. Zvyagin, M. Ozerov, E. Ci¿már, D. Kamenskyi, S. Zherlitsyn, T. Herrmannsdörfer, J. Wosnitza, R. Wünsch, and W. Seidel
 

Hyug-Gyo Rhee, Dong-Ik Kim, and Yun-Woo Lee
 

Tijmen G. Euser, Philip J. Harding, and Willem L. Vos
 

J. P. Beardmore, A. J. Palmer, K. C. Kuiper, and R. T. Sang
 

Andrew R. Cook and Yuzhen Shen
 

C. H. Wang and Z. Yang
 

A. D. Bristow, D. Karaiskaj, X. Dai, T. Zhang, C. Carlsson, K. R. Hagen, R. Jimenez, and S. T. Cundiff
 

Sai Siva Gorthi and Pramod Rastogi
 

Hamid R. Khalesifard, Andreas Fix, Gerhard Ehret, Max Schiller, and Volker Wulfmeyer
 

A. V. Golubeva, M. Mayer, Yu. M. Gasparyan, J. Roth, and V. A. Kurnaev
 

T. Happel, T. Estrada, E. Blanco, V. Tribaldos, A. Cappa, and A. Bustos
 

A. R. Field, D. Dunai, N. J. Conway, S. Zoletnik, and J. Sárközi
 

Manoj Mathew, Susana I. C. O. Santos, Dobryna Zalvidea, and Pablo Loza-Alvarez
 

Stefan W. Stahl, Elias M. Puchner, and Hermann E. Gaub
 

Jie Li, Min-Sang Lee, Wei He, Björn Redeker, Arndt Remhof, Edward Amaladass, Christoph Hassel, and Thomas Eimüller
 

V. Kahl, A. Gansen, R. Galneder, and J. O. Rädler
 

Cheolsu Han, Haiwon Lee, and Chung Choo Chung
 

Byung Seon Chun, Kwangsoo Kim, and Daegab Gweon
 

H. Oguchi, J. Hattrick-Simpers, I. Takeuchi, E. J. Heilweil, and L. A. Bendersky
 

Tsuneaki Masuzawa, Yoshikazu Yoshida, Hiromichi Ikeda, Keigo Oguchi, Hikaru Yamagishi, and Yuji Wakabayashi
 

Wei Chu, Joseph Fu, Ronald Dixson, George Orji, and Theodore Vorburger
 

B. A. Talagañis, F. J. Castro, A. Baruj, and G. Meyer
 

F. Decremps, L. Belliard, B. Couzinet, S. Vincent, P. Munsch, G. Le Marchand, and B. Perrin
 

Graeme M. Hansford
 

Shaolong Wan, Wei-Yin Chen, and George Gowan
 

Jürgen Haase, Swee K. Goh, Thomas Meissner, Patricia L. Alireza, and Damian Rybicki
 

J. A. Dura and J. LaRock
 

Chuanjun Li , Zhongming Ren , Weili Ren , Kang Deng , Guanghui Cao , Yunbo Zhong , and Yuqin Wu
 

Xinguo Hong, Matthew Newville, Vitali B. Prakapenka, Mark L. Rivers, and Stephen R. Sutton
 

I. G. Trindade, R. Fermento, D. Leitão, and J. B. Sousa
 

E. Bräuer-Krisch, H. Requardt, T. Brochard, G. Berruyer, M. Renier, J. A. Laissue, and A. Bravin
 

D. M. Salter, D. Heißelmann, G. Chaparro, G. van der Wolk, P. Reißaus, A. G. Borst, R. W. Dawson, E. de Kuyper, G. Drinkwater, K. Gebauer, M. Hutcheon, H. Linnartz, F. J. Molster, B. Stoll, P. C. van der Tuijn, et al.
 

K. Vervaeke, E. Simoen, G. Borghs, and V. V. Moshchalkov
 

Cécile Guianvarc¿h, Roberto M. Gavioso, Giuliana Benedetto, Laurent Pitre, and Michel Bruneau
 

Tamihiro Gotoh
 

Y. Ezzahri and A. Shakouri
 

Arantza Mendioroz, Raquel Fuente-Dacal, Estibaliz Apiñaniz, and Agustín Salazar
 

Chao Wang , Yifan Kang , Larry Weaver, and Zenghu Chang
 

Zahra Noroozi, Horacio Kido, Miodrag Micic, Hansheng Pan, Christian Bartolome, Marko Princevac, Jim Zoval, and Marc Madou
 

H. M. Akram, M. Maqsood, and H. Rashid
 

Bernhard Seifried and Feral Temelli
 

D. Durga Praveen Kumar, S. Mitra, K. Senthil, Vishnu K. Sharma, S. K. Singh, A. Roy, Archana Sharma, K. V. Nagesh, and D. P. Chakravarthy
 

Jordan A. Grasser and Darrin S. Muggli
 

S. P. Thompson, J. E. Parker, J. Potter, T. P. Hill, A. Birt, T. M. Cobb, F. Yuan, and C. C. Tang
 

J. W. Bond
 

S. H. N. Lim, D. R. McKenzie, and M. M. M. Bilek
 

K. H. Lam, C. L. Sun, K. W. Kwok, and H. L. W Chan
 

A. C. Torrezan, T. P. Mayer Alegre, and G. Medeiros-Ribeiro