REVISTA

IEEE TRANSACTIONS ON PATTERN ANALYSIS AND MACHINE INTELLIGENCE

ISSN: 0162-8828    Frecuencia: 12   Formato: Impresa

Tablas de contenido  

15 artículos asociados

Volumen 30 Número 1 Parte 0 Año 2008

Liangjia Zhu; Zongtan Zhou; Dewen Hu
Pág. 1 - 13  

Ortner, M.; Descombes, X.; Zerubia, J.
Pág. 105 - 119  

Sharp, Gregory C.; Lee, Sang W.; Wehe, David K.
Pág. 120 - 130  

Shubao Liu; Kongbin Kang; Tarel, J.-P.; Cooper, D.B.
Pág. 131 - 146  

Lu Shijian; Chew Lim Tan
Pág. 14 - 24  

Feris, R.; Raskar, R.; Longbin Chen; Kar-Han Tan; Turk, M.
Pág. 147 - 159  

Ayad, H.G.; Kamel, M.S.
Pág. 160 - 173  

Culp, M.; Michailidis, G.
Pág. 174 - 179  

Dowson, N.; Bowden, R.
Pág. 180 - 185  

Hara, K.; Nishino, K.; Ikeuchi, K.
Pág. 25 - 35  

Ferrari, V.; Fevrier, L.; Jurie, F.; Schmid, C.
Pág. 36 - 51  

Mellor, M.; Byung-Woo Hong; Brady, M.
Pág. 52 - 61  

Santos, J.M.; de Sa, J.M.; Alexandre, L.A.
Pág. 62 - 75  

Iwata, K.; Hayashi, A.
Pág. 76 - 88  

Athitsos, V.; Alon, J.; Sclaroff, S.; Kollios, G.
Pág. 89 - 104