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IEEE TRANSACTIONS ON RELIABILITY

ISSN: 0018-9529    Frecuencia: 4   Formato: Impresa

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18 artículos asociados

Volumen 48 Número 4 Parte 0 Año 1999

Evans, R A
Pág. 313 - 313  

Pág. 314 - 314  

Ssu, K; Yao, B; Fuchs, W; Neves, N
Pág. 315 - 324  

Kasbekar, M; Narayanan, C; Das, C
Pág. 325 - 337  

Jin, H; Sullivan, G; Masson, G
Pág. 338 - 350  

Chau, S; Alkalai, L; Tai, A; Burt, J
Pág. 351 - 359  

Mura, I; Bondavalli, A
Pág. 360 - 368  

Lloyd, C; Yip, P; Chan, K
Pág. 369 - 376  

Chan, V; Meeker Jr, W
Pág. 377 - 387  

Linton, D; Dou, W
Pág. 388 - 393  

Vemuri, K; Dugan, J; Sullivan, K
Pág. 394 - 402  

Chinnam, R
Pág. 403 - 412  

Reineke, D; Pohl, E; Murdock Jr, W
Pág. 413 - 419  

Pág. 420 - 420  

Pág. 421 - 421  

Pág. 422 - 422  

Pág. 423 - 424  

Pág. 425 - 425