REVISTA

IEEE TRANSACTIONS ON RELIABILITY

ISSN: 0018-9529    Frecuencia: 4   Formato: Impresa

Tablas de contenido  

21 artículos asociados

Volumen 48 Número 1 Parte 0 Año 1999

Evans, R A
Pág. 1 - 1  

Pág. 102 - 102  

Pág. 103 - 103  

Finkelstein, M
Pág. 19 - 24  

Pág. 2 - 2  

Billinton, R; Jonnavithula, S
Pág. 25 - 30  

Pág. 3 - 3  

Carrasco, J; Sune, V
Pág. 31 - 41  

Katz, A
Pág. 4 - 5  

Nordmann, L; Pham, H
Pág. 42 - 49  

Zang, X; Sun, H; Trivedi, K
Pág. 50 - 60  

Yellman, T
Pág. 6 - 8  

Yeo, K; Tang, L
Pág. 61 - 67  

Jiang, R; Murthy, D
Pág. 68 - 72  

Tang, L; Lu, Y; Chew, E
Pág. 73 - 78  

Shimokawa, T; Liao, M
Pág. 79 - 86  

Lin, M; Chang, M; Chen, D
Pág. 87 - 95  

Zuo, M; Jiang, R; Yam, R
Pág. 9 - 18  

Pág. 96 - 96  

Pág. 97 - 97  

Pág. 97 - 101