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IEEE TRANSACTIONS ON RELIABILITY

ISSN: 0018-9529    Frecuencia: 4   Formato: Impresa

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18 artículos asociados

Volumen 53 Número 1 Parte 0 Año 2004

Marsh, W. A.
Pág. 1 - 2  

Ye, N. Saydjari, O. S.
Pág. 102 - 102  

Guan, Y. Fu, X. Bettati, R. Zhao, W.
Pág. 103 - 115  

Park, C. Kulasekera, K. B.
Pág. 11 - 21  

Ye, N. Zhang, Y. Borror, C. M.
Pág. 116 - 123  

Maxion, R. A. Townsend, T. N.
Pág. 124 - 147  

Kreidl, O. P. Frazier, T. M.
Pág. 148 - 166  

Xiong, C. Ji, M.
Pág. 22 - 28  

Balasooriya, U. Low, C.-K.
Pág. 29 - 36  

Lin, M.-S.
Pág. 3 - 6  

Bai, J. Pham, H.
Pág. 37 - 42  

Ju, S.-N. Chen, C.-L. Chang, C.-T.
Pág. 43 - 60  

Fotuhi-Firuzabad, M. Billinton, R. Munian, T. S. Vinayagam, B.
Pág. 61 - 70  

Boland, P. J. Samaniego, F. J.
Pág. 7 - 10  

Aneja, Y. P. Chandrasekaran, R. Nair, K. P. K.
Pág. 71 - 76  

Huang, W. Askin, R. G.
Pág. 77 - 82  

Meyer, E. L. van Dyk, E. E.
Pág. 83 - 92  

Hong, I. Potkonjak, M. Karri, R.
Pág. 93 - 101